蔡司Sigma系列掃描電鏡
 | 產品簡介: ? 靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能 ? 將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。 ? Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。 ? 用于清晰成像的靈活探測 ? 自動化加速工作流程 ? 高級分析型顯微鏡 | ||||
配件： SmartEDX 為您帶來一體化能譜分析解決方案 如果單采用SEM成像技術無法全面了解部件或樣品，研究人員就需要在SEM中采用能譜儀（EDS）來進行顯微分析。通過針對低電壓應用而優化的能譜解決方案，您可以獲得元素化學成分的空間分布信息。 拉曼成像與掃描電鏡聯用系統 完全集成化的拉曼成像 在您的數據中加入拉曼光譜及成像結果，獲得材料更豐富的表征信息。通過擴展蔡司Sigma 300，使其具備共聚焦拉曼成像功能，您能夠獲得樣品中獨一無二的化學指紋信息，從而指認其成分。
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